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内存测试卡系统组成

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    内存条测试卡系统主要组成部分为(参见下图)


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   内存条维修卡上有3个7 段数码管(U4-U6),1 5X8 显示阵列(U2) 和2个开关(S1,S2) ,各部分作用如下:

17 段数码管用来显示内存M 数:

 在内存测试过程中,每测完1M,数码管就会显示相对应的M 数,测试完后,数码管会显示出总容量的M 数,。比如:当你测试双面32M内存时,开始数码管显示000,表明正在测试01M 的地址范围。测完1M后,数码管显示001,表示正在测试1M2M的范围。
 测试完后,数码管显示
032

2:开关用来选择测试模式:

 本系统提供了四种测试模式:S1,S2 = 00 , 01 , 10 , 11

  a):S1,S2=00

 此模式也叫快速测试。通过对内存跳跃式测试来判断内存好坏,主要针对IC 内部大部分损坏,金手指接触不良,或者IC 假焊,连焊等由于加工造成的内存条损坏。对于133M 外频的内存条,每测试128M 约需要5 秒钟。

  b):S1,S2=01

 此模式也叫全面测试。通过对内存中每一单元进行多次读写来判断内存好坏,主要针对IC 内部局部损坏进行测试。对于133M 外频的内存条,每测试1M约需要1秒钟。

 

  c):S1,S2=10
V3.0

 此测试模式介于快速测试和全面测试之间。对于133M外频的内存条,每测试128M 约需要30 秒钟。

  d):S1,S2=11

 此模式用来进行电脑兼容性测试。主要针对内存条在操作系统下的稳定性和兼容性进行测试。具体用法请参照电脑兼容性测试说明部分。

35X8 显示阵列:

 5X8显示阵列是用来显示内存条上哪颗IC 是坏的。在PCB板上,该显示阵列右边标1234 四个数来表示四行。用来对应内存条的不面。注显示阵列中间一行有使用。此在PCB板上标识

  a):显示测内存的正面

  待测内存的正面用2 行来表示,用来表内存正面的8IC.(:对于SDR,内存的正面是指内存PCB1。。。84一面,见图)

  其1-8 经过编排后的内存IC 序号相对应(内存IC 编排方系统测试环境中的IC 编排方法)。假如内存编排顺序如下,如显示阵列3盏灯亮表明内存上序号3对应的4IC

  b):显示测内存的

  待测内存的面用1 行来表示,用来表内存面的8IC.(:对于SDR,内存的面是指内存PCB85。。。168一面,见图)

  其1-8 和经过编排后的内存IC 序号相对应(内存IC 编排方系统测试环境中的IC 编排方法)。假如内存编排顺序如下,如显示阵列6盏灯亮表明内存上序号6对应的5IC

显示阵列( 5X8 显示阵列2 行)

  c):显示测内存数据线短路IC V3.0

 待测内存数据线短路IC 3 行来表示,用来表内存面的8IC(:对于数据线短路,系统分是

内存哪一面的IC ,即有可能,通所使用的法是先拆掉一颗,测试一次来判定。假内存编排如下所示,31盏灯亮时,表面测内存面的8IC 据线短路。此时,包3种可能性:正面8 颗短路;背8 颗短路;两8 短路。)

d):显示内存条状态

 内存条状态4 行来表示,左边两个指示表示当内存条是单面,是双面。当左边只盏灯亮,表示当内存为单面,当左边第一,二盏灯都亮,表示当内存为双面。右边6个指示表示当内存条的单面容量。当右边6 盏灯只亮时,表示当内存单面容量是16M(包括16M),亮两盏时,表示当内存单面容量是32M时,表示当内存单面容量是64M时,表示当内存单面容量是128M亮五盏时,表示当内存单面容量是256M亮六盏时,表示当内存单面容量是512M。如:当4行指示灯左边亮2 右边亮3 表示当内存条为双面128M

e:)测内存电和地短路

 对于情况,系统不会有任何显示。此时ATX 源已经进流保护状态压输出。通现症状为开7 段数码管一下以后熄灭。此时有关ATX 源才可以重新